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  • TPY-1型天津拓普椭圆偏振测厚仪
    TPY-1型天津拓普椭圆偏振测厚仪

    更新日期:2024-12-18

    型号:TPY-1型

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    近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。
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  • WSZ-5A型天津拓普单光子计数实验系统
    WSZ-5A型天津拓普单光子计数实验系统

    更新日期:2024-12-18

    型号:WSZ-5A型

    浏览量:2482

    WSZ-5A型单光子计数实验系统是我公司开发的一套实验系统,该实验由单光子计数器、制冷系统、外光路等部分组成。该系统的信号处理部分采用脉冲高度甄别,甄别后的信号送脉冲计数器进行计数。输出的信号也直接引出至面板,实验者可以根据自己的实验情况进行实验扩展,这样给实验者以更加大的实验空间以到达学习与锻炼的目的。
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